Resumen:
En este trabajo se presenta el estudio del confinamiento y propagación de carga superficial
estudiado sobre estructuras basadas en InP (001) altamente dopado. De manera especifica,
lo que se estudió fue la respuesta asociada a InP, conformada por muestras compuestas por
la siguiente estructura: a un sustrato de InP dopado con azufre, se le creció una rejilla de
difracción de InP altamente dopado con atomos de silicio. La rejilla de difracción tiene el
propósito de que por la ley de Bragg, la luz de iluminación tenga el momento necesario para
poder excitar los plasmones superficiales en el infrarrojo. En lo que respecta a este trabajo, se
extendio el estudio de la respuesta de dicha carga superficial con la tecnica de microscopia en
campo cercano, utilizando laseres con longitud de onda de 407 nm, 532 nm y 633 nm. De los
resultados experimentales obtenidos en la region visible mediante NSOM, se especula que es
posible obtener una respuesta igualmente plasmónica asociada a las cargas libres superficiales
en la estructura.
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