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Estudio de la nanoestructura de películas delgadas semiconductoras utilizando microscopia de fuerza atómica
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Estudio de la nanoestructura de películas delgadas semiconductoras utilizando microscopia de fuerza atómica
Ruiz, Facundo;0000-0001-6589-5958
URI:
https://repositorioinstitucional.uaslp.mx/xmlui/handle/i/3236
Fecha:
1995-09
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Ficheros en el ítem
Nombre:
DCF1ENE99501.pdf
Tamaño:
51.05Mb
Formato:
PDF
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