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Mediciones de reflectancia en el lejano infrarrojo demuestras de GaSb crecidas mediante LPE para conocerla concentración de portadores y su movilidad

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dc.contributor HUGO RICARDO NAVARRO CONTRERAS;2128 es_MX
dc.contributor FRANCISCO JAVIER DE ANDA SALAZAR;1159 es_MX
dc.contributor.author Soto Piña, José Luis es_MX
dc.creator JOSE LUIS SOTO PIÑA;CA1240549 es_MX
dc.date.accessioned 2014-08-04T15:48:56Z
dc.date.available 2014-08-04T15:48:56Z
dc.date.issued 1997-03
dc.date.submitted 1997-03 es_MX
dc.identifier.other Maestría en Ingeniería Eléctrica es_MX
dc.identifier.uri https://repositorioinstitucional.uaslp.mx/xmlui/handle/i/2461
dc.language.iso spa es_MX
dc.publisher Facultad de Ingeniería es_MX
dc.relation Investigadores es_MX
dc.relation Estudiantes es_MX
dc.relation.isformatof versión publicada es_MX
dc.relation.ispartof REPOSITORIO NACIONAL CONACYT
dc.rights Acceso abierto es_MX
dc.rights Acceso abierto
dc.subject.other 7 INGENIERIA Y TECNOLOGIA es_MX
dc.title Mediciones de reflectancia en el lejano infrarrojo demuestras de GaSb crecidas mediante LPE para conocerla concentración de portadores y su movilidad es_MX
dc.type Tesis de Maestria es_MX
dc.rights.rights http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 es_MX


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